AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

簡要描述：全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī) AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。

產(chǎn)品型號(hào)： AFM-in-Phenom XL

所屬分類：原子力掃描電鏡聯(lián)用

更新時(shí)間：2025-12-30

廠商性質(zhì)：其他

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詳情介紹

品牌	Phenom 飛納電鏡	產(chǎn)地	進(jìn)口
產(chǎn)品新舊	全新	分辨率	0.2nm×0.2nm×0.04nm

AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。

· 設(shè)備掃描范圍（開環(huán)）：100μm×100μm×20μm

· 設(shè)備掃描范圍（閉環(huán)）：80μm×80μm×16μm

· 分辨率：0.2nm×0.2nm×0.04nm

· 最大樣品尺寸：21mm×11mm×8mm

· 最大樣品重量：100g

· 成像模式：表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等

AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司，2012年創(chuàng)立于上海，為高校、企業(yè)和研究所提供臺(tái)式掃描電子顯微鏡，產(chǎn)品包含：臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡、CeB6 燈絲系列臺(tái)式掃描電鏡、Particle X 系列全自動(dòng)掃描電鏡以及掃描電鏡樣品制備設(shè)備——離子研磨儀等。

飛納電鏡還提供與臺(tái)式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測(cè)試服務(wù)。我們一直專注顯微技術(shù)，致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn)，在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測(cè)試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納電鏡在中國已經(jīng)擁有超過 2000 名用戶。

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